Lehrlabore zur Halbleitertechnik
Über fünfzig Filmetrics F20-Systeme sind bereits an Universitäten in Unterrichtslabors zur Halbleiterherstellung integriert. Das liegt nicht nur daran, dass sie schnell, verlässlich und kostengünstig sind. Das intuitive Design macht sie außerdem zur idealen Plattform um die Prinzipien der spektralen Reflektivität zu unterrichten. (Wenn Sie sich dafür interessieren, wie die F20-Systeme in Lehrlaboren eingesetzt worden, dann suchen Sie einfach bei Google nach dem Ausdruck Filmetrics University.) Da weltweit tausende F20-Systeme im Einsatz sind können die Studenten so Dinge lernen, die ihnen später in der Industrie nutzen.
Filmetrics bietet Universitäten spezielle Rabatte für Instrumente, die in Laborkursen eingesetzt werden, an.
Um Ihre Anwendung im Halbleiterlehrlabor zu diskutieren, kontaktieren Sie Unsere Dünnschichtexperten.
Filmetrics bietet Ihnen kostenlose Testmessungen ihrer Proben - Ergebnisse sind typischerweise innerhalb von 1-2 Tagen verfügbar.Sprechen Sie uns an
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Amorphes & Polysilizium
Messen Sie die Dicke, die Kristallinität, n und k von allen Formen von amorphem und polykristallinem Silizium.
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CMP
Unsere F80 Schichtdickenmessgeräte sind für die Messung von Oxiden, STI und metallischen CMP Prozessen entwickelt worden.
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Dielektrika
Filmetrics hat Instrumente auf Lager, die in der gesamten Industrie dielektrische Schichten messen.
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Dicke von Hardcoats
Filmetrics Systeme werden in der Automobildindustrie eingesetzt, um die Schichtdicke von Hardcoat und Primern zu bestimmen.
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IC Fehleranalyse
Das F3-sX wird von der Chipindustrie eingesetzt, um das rückseitige Ausdünnen von Silizium zu messen.
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ITO & andere TCOs
Geschützte Analysealgorithmen ermöglichen die Messung der Schichtdicke von TCO, des Index und des Absorptionskoeffizienten mit nur einem Mausklick.
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Medizinische Hilfsmittel
Messen Sie die Dicke angioplastischer Ballons, Stents und Implantatbeschichtungen sowie viele andere.
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Schichtdicke von Metallen
Messen Sie die Schichtdicke, den Brechungsindex und Absorptionskoeffizienten von Metallschichen mit einer Dicke von bis zu 50nm.
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Mikrofluidik
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OLEDs
Messen Sie die Schichtdicke und den Brechungsindex von NPB, AlQ3, PEDOT, P3HT, Teflon, etc…
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Ophthalmische Beschichtungen
Benutzen Sie das F10-AR um die Reflektivität und die Farbe zu messen, zusätzlich ist es möglich die Schichtdicke von AR- und Hardcoat-Beschichtungen zu messen.
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Parylenbeschichtungen
Legen Sie Ihre mit Parylen beschichteten Proben einfach auf den Probentisch des F3-CS um die Schichtdicke zu messen!
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Photolacke
Wir haben bereits dutzende Photolacke gemessen und können Datensätze mit Brechungsindexdaten für beliebige Photolacke generieren.
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Poröses Silizium
Messen Sie die Schichtdicke, Porösität, den Brechungsindex und k von porösen Siliziumschichten.
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Funktionale Beschichtungen
Filmetrics bietet eine breite Palette an Produkten für die Messung von funktionalen Halbleiterbeschichtungen an.
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Brechungsindex & k
Messen Sie den Brechungsindex und den Absorptionskoeffizienten über einen Wellenlängenbereich von maximal 190-1700nm.
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Siliziumwafer und -membrane
Wir bieten Tischsysteme, Mappingsysteme und Systeme für Produktionsreihen an, die Silizium bis zu einer Dicke von 2mm messen können.
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Solaranwendungen
Messen Sie CdTe, CdS, CIGS, amorphes Si, TCOs, Antireflexbeschichtungen (AR) und mehr...
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Lehrlabore für Halbleitertechnik
Mehr als fünfzig F20-Systeme von Filmetrics sind an universitäre Lehrlabore ausgeliefert worden.
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Bandbeschichtungen
Systeme von Filmetrics werden häufig in der Polymerindustrie eingesetzt um in-line Schichtdicken zu messen.
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