BREADCRUMB_surface-roughness

Anwendungen suchen

• Amorphes & Polysilizium

  Messen Sie die Dicke, die Kristallinität, n und k von allen Formen von amorphem und polykristallinem Silizium.

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• CMP

  Unsere F80 Schichtdickenmessgeräte sind für die Messung von Oxiden, STI und metallischen CMP Prozessen entwickelt worden.

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• Dielektrika

  Filmetrics hat Instrumente auf Lager, die in der gesamten Industrie dielektrische Schichten messen.

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• Dicke von Hardcoats

  Filmetrics Systeme werden in der Automobildindustrie eingesetzt, um die Schichtdicke von Hardcoat und Primern zu bestimmen.

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• IC Fehleranalyse

  Das F3-sX wird von der Chipindustrie eingesetzt, um das rückseitige Ausdünnen von Silizium zu messen.

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• ITO & andere TCOs

  Geschützte Analysealgorithmen ermöglichen die Messung der Schichtdicke von TCO, des Index und des Absorptionskoeffizienten mit nur einem Mausklick.

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• Medizinische Hilfsmittel

  Messen Sie die Dicke angioplastischer Ballons, Stents und Implantatbeschichtungen sowie viele andere.

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• Schichtdicke von Metallen

  Messen Sie die Schichtdicke, den Brechungsindex und Absorptionskoeffizienten von Metallschichen mit einer Dicke von bis zu 50nm.

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• Mikrofluidik

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• OLEDs

  Messen Sie die Schichtdicke und den Brechungsindex von NPB, AlQ3, PEDOT, P3HT, Teflon, etc…

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• Ophthalmische Beschichtungen

  Benutzen Sie das F10-AR um die Reflektivität und die Farbe zu messen, zusätzlich ist es möglich die Schichtdicke von AR- und Hardcoat-Beschichtungen zu messen.

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• Parylenbeschichtungen

  Legen Sie Ihre mit Parylen beschichteten Proben einfach auf den Probentisch des F3-CS um die Schichtdicke zu messen!

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• Photolacke

  Wir haben bereits dutzende Photolacke gemessen und können Datensätze mit Brechungsindexdaten für beliebige Photolacke generieren.

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• Poröses Silizium

  Messen Sie die Schichtdicke, Porösität, den Brechungsindex und k von porösen Siliziumschichten.

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• Funktionale Beschichtungen

  Filmetrics bietet eine breite Palette an Produkten für die Messung von funktionalen Halbleiterbeschichtungen an.

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• Brechungsindex & k

  Messen Sie den Brechungsindex und den Absorptionskoeffizienten über einen Wellenlängenbereich von maximal 190-1700nm.

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• Siliziumwafer und -membrane

  Wir bieten Tischsysteme, Mappingsysteme und Systeme für Produktionsreihen an, die Silizium bis zu einer Dicke von 2mm messen können.

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• Solaranwendungen

  Messen Sie CdTe, CdS, CIGS, amorphes Si, TCOs, Antireflexbeschichtungen (AR) und mehr...

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• Lehrlabore für Halbleitertechnik

  Mehr als fünfzig F20-Systeme von Filmetrics sind an universitäre Lehrlabore ausgeliefert worden.

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• Bandbeschichtungen

  Systeme von Filmetrics werden häufig in der Polymerindustrie eingesetzt um in-line Schichtdicken zu messen.

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