Lieferumfang:
- Integrierte Spektrometer-/Lichtquellen-Einheit
- FILMeasure 8 Software
- FILMeasure Standalone Software (für geräteunabhängige Datenanalyse)
- Reflexions-Standard
- Schichtdickenstandard
- Absorptionsfilter (für hochreflektive Substrate)
- APPLICATION_BULLETS_SpareTH2lamp
Modellspezifikationen
| Modell | Schichtdickenbereich* | Wellenlängenbereich |
|---|---|---|
| F32 | 15nm - 70µm | 380-1050nm |
| F32-EXR | 15nm - 250µm | 380-1700nm |
| F32-NIR | 100nm - 250µm | 950-1700nm |
| F32-UV | 1nm - 40µm | 190-1100nm |
| F32-UVX | 1nm - 250µm | 190-1700nm |
| F32-XT | 0.2µm - 450µm | 1440-1690nm |
| BREADCRUMB_f32sx | 10µm - 3mm | 960-1580nm |
Schichtdickenbereich*
Zusätzliche Vorteile:
- Datenbank mit über 130 Materialien im Lieferumfang jedes Systems enthalten, dazu Zugang zu hunderten weiteren.
- Applikationsingenieure sind 24 Stunden (Mo-Fr) für direkten Support verfügbar
- Interaktiver Online-Support (Internetverbindung erforderlich)
- Hardware Upgrade Programm
