Lieferumfang:
- Integrierte Spektrometer-/Lichtquellen-Einheit
- Einzelpunktmesstisch mit 10µm Messfleckdurchmesser
- Mess- und Auswertesoftware FILMeasure 8
- Si Reflexions-Standard
- FILMeasure Standalone Software (für geräteunabhängige Datenanalyse)
Modellspezifikationen
| Modell | Schichtdickenbereich* | Wellenlängenbereich |
|---|---|---|
| F32-s980 | 10µm - 1mm | 960-1000nm |
| F32-s1310 | 15µm - 2mm | 1280-1340nm |
| F32-s1550 | 25µm - 3mm | 1520-1580nm |
Schichtdickenbereich (n=1.5)*
Zusätzliche Vorteile:
- Datenbank mit über 130 Materialien im Lieferumfang jedes Systems enthalten, dazu Zugang zu hunderten weiteren.
- Applikationsingenieure sind 24 Stunden (Mo-Fr) für direkten Support verfügbar
- Interaktiver Online-Support (Internetverbindung erforderlich)
- Hardware Upgrade Programm
