F3
Die Geräte der F3 Produktreihe sind die neuste Weiterentwicklung unserer Spektralreflektometer. Ihr Haupteinsatzgebiet ist die Dünnschichtanalyse unter Verwendung der optionalen Schichtdicken- und Brechungsindexmodule. Damit besitzen Sie denselben Funktionsumfang wie die Geräte unserer beliebten F20 Serie, profitieren darüberhinaus aber von der automatischen Wellenlängenkalibration und einer besonders langlebigen Lichtquelle (40 Tsd. Stunden). Damit ist das F3 weitgehend wartungsfrei!
Messen Sie Schichtdicke und Brechungsindex in sekundenschnelle. Wie alle unsere Messgeräte wird das F3 schnell und einfach über USB an Ihren Windows Computer angeschlossen. Darüberhinaus wird keine weitere Stromversorgung über Kaltgerätestecker o.ä. benötigt!
Die Modelle der F3 Produktreihe unterschieden sich vornehmlich im Messbereich der Schichtdicke, der wiederum durch den verwendeten Wellenlängenbereich festgelegt wird.
Lieferumfang:
- Integrierte Spektrometer-/Lichtquellen-Einheit
- Mess- und Auswertesoftware FILMeasure 8
- FILMeasure Standalone Software (für geräteunabhängige Datenanalyse)
- SS-3 Sample Stage mit Glasfaserkabel
- BK7 Referenz-Material
- Si Reflexions-Standard
Modellspezifikationen
| Modell | Schichtdickenbereich* | Wellenlängenbereich |
|---|---|---|
| F3 | 15nm - 70µm | 380-1050nm |
| F3-NIR | 100nm - 250µm | 950-1700nm |
| F3-UV | 1nm - 40µm | 190-1100nm |
| F3-XT | 0.2µm - 450µm | 1440-1690nm |
| F3-sX Serie | 10µm - 3mm | 960-1580nm |
Zusätzliche Vorteile:
- Datenbank mit über 130 Materialien im Lieferumfang jedes Systems enthalten, dazu Zugang zu hunderten weiteren.
- Applikationsingenieure sind 24 Stunden (Mo-Fr) für direkten Support verfügbar
- Interaktiver Online-Support (Internetverbindung erforderlich)
- Hardware Upgrade Programm
