Wir stellen vor: aRTie-UV

Optimales Preis-/Leistungsverhältnis für die Messung von Reflektivität, Transmission und Schichtdicke im Wellenlängenbereich 190-1100 nm

Mit der Weiterentwicklung des aRTie konnte ein Durchbruch hinsichtlich Anschaffungskosten und Anwenderfreundlichkeit von Spektralphotometern erzielt werden. Mit diesem System gehören zeitraubende Referenzmessungen der Vergangenheit an. Das aRTie muss lediglich mit dem USB-Anschluss Ihres Computers und der UV-Lichtquelle verbunden werden, und schon ist es messbereit. Die langlebigen und leistungsstarken Leuchtmittel und die integrierte spektroskopische Kalibrierung minimieren den Wartungsaufwand und steigern gleichzeitig die Zuverlässigkeit des Systems.

Um größere Proben messen zu können oder Videoaufnahmen der Proben machen zu können verweisen wir auf das F10-RT.

Was ist das Besondere an aRTie?

  • Referenz- und Hintergrundmessungen sind nicht mehr notwendig
  • Leistungsstarke Lichtquelle (30W Deuterium, 7W Halogen)
  • Integrierte, automatische Wellenlängenkalibration
  • Spektrale Messung von R, T, R+T, A(=1-R-T) und Farbe von ebenen, spiegelnden Proben
  • Schichtdickenmessung und Analyse des Brechungsindex optional möglich
  • Wellenlängenbereich 190-1100nm

Modellspezifikationen

*abhängig vom Schichtaufbau
**Schichtdickemessung und Indexmodellierung sind optional
Modell Schichtdickenbereich* Wellenlängenbereich
F2-RT-UV 1nm - 40µm** 190-1100nm
F42_Model Messgröße(n)
F2-RT-UV Reflektivität und Transmission
F2-R-UV Reflektivität
F2-T-UV Transmission