Siliziumwafer und -membrane

Filmetrics bietet Tabletop, Mapping und In-situ Schichtdickenmessgeräte an, die die Messung von Siliziumwafern und Membranen im Schichtdickebereich von 1nm bis 2mm ermöglichen.

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Kontaktieren Sie unsere Dünnschichtexperten, um mit Ihnen Ihre Schichtdickemessungen bezüglich Si-Wafern und Membranen zu besprechen.

Filmetrics bietet Ihnen kostenlose Testmessungen an – Ergebnisse liegen typischerweise innerhalb von 1 – 2 Tagen vor.

*Bereich ist abhängig vom Modell, des optionalen Zubehörs und dem zu messenden Material
Schichtdickenbereich* Anwendung Produktreihe
5µm - 1mm Punktmessung F3-sX
1nm - 200µm Punktmessung F20
3nm - 1mm Schichtdickenmapping F50/F60

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Wir unterhalten uns gerne über Dünnschichten, daher werden wir Ihnen in ein bis zwei Minuten antworten (Mo – Fr).

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Anwendungen suchen

  • Amorphes & Polysilizium

    Messen Sie die Dicke, die Kristallinität, n und k von allen Formen von amorphem und polykristallinem Silizium.

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  • CMP

    Unsere F80 Schichtdickenmessgeräte sind für die Messung von Oxiden, STI und metallischen CMP Prozessen entwickelt worden.

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  • Dielektrika

    Filmetrics hat Instrumente auf Lager, die in der gesamten Industrie dielektrische Schichten messen.

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  • Dicke von Hardcoats

    Filmetrics Systeme werden in der Automobildindustrie eingesetzt, um die Schichtdicke von Hardcoat und Primern zu bestimmen.

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  • IC Fehleranalyse

    Das F3-sX wird von der Chipindustrie eingesetzt, um das rückseitige Ausdünnen von Silizium zu messen.

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  • ITO & andere TCOs

    Geschützte Analysealgorithmen ermöglichen die Messung der Schichtdicke von TCO, des Index und des Absorptionskoeffizienten mit nur einem Mausklick.

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  • Medizinische Hilfsmittel

    Messen Sie die Dicke angioplastischer Ballons, Stents und Implantatbeschichtungen sowie viele andere.

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  • Schichtdicke von Metallen

    Messen Sie die Schichtdicke, den Brechungsindex und Absorptionskoeffizienten von Metallschichen mit einer Dicke von bis zu 50nm.

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  • Mikrofluidik

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  • OLEDs

    Messen Sie die Schichtdicke und den Brechungsindex von NPB, AlQ3, PEDOT, P3HT, Teflon, etc…

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  • Ophthalmische Beschichtungen

    Benutzen Sie das F10-AR um die Reflektivität und die Farbe zu messen, zusätzlich ist es möglich die Schichtdicke von AR- und Hardcoat-Beschichtungen zu messen.

    APPLICATIONS_ophthalmic_FilterKeywords

  • Parylenbeschichtungen

    Legen Sie Ihre mit Parylen beschichteten Proben einfach auf den Probentisch des F3-CS um die Schichtdicke zu messen!

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  • Photolacke

    Wir haben bereits dutzende Photolacke gemessen und können Datensätze mit Brechungsindexdaten für beliebige Photolacke generieren.

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  • Poröses Silizium

    Messen Sie die Schichtdicke, Porösität, den Brechungsindex und k von porösen Siliziumschichten.

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  • Funktionale Beschichtungen

    Filmetrics bietet eine breite Palette an Produkten für die Messung von funktionalen Halbleiterbeschichtungen an.

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  • Brechungsindex & k

    Messen Sie den Brechungsindex und den Absorptionskoeffizienten über einen Wellenlängenbereich von maximal 190-1700nm.

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  • Siliziumwafer und -membrane

    Wir bieten Tischsysteme, Mappingsysteme und Systeme für Produktionsreihen an, die Silizium bis zu einer Dicke von 2mm messen können.

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  • Solaranwendungen

    Messen Sie CdTe, CdS, CIGS, amorphes Si, TCOs, Antireflexbeschichtungen (AR) und mehr...

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  • Lehrlabore für Halbleitertechnik

    Mehr als fünfzig F20-Systeme von Filmetrics sind an universitäre Lehrlabore ausgeliefert worden.

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  • Bandbeschichtungen

    Systeme von Filmetrics werden häufig in der Polymerindustrie eingesetzt um in-line Schichtdicken zu messen.

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